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レーザを光源とし，試料面上でレーザスポットをラスタ走査して，試料像を得るレーザ顕微鏡の一種．点光源と点検出器を用いることに特徴がある．例えば，光源の後段と検出器の前段にピンホールを設け，光路を制限する．通常の光学顕微鏡のそれより鉛直方向，面内方向の解像度を向上させることができる．特に焦点深度が極めて浅いことを利用して，サブミクロンオーダの表面形状測定あるいは試料内部の断面観測に用いられる．
