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2022年10月8日（土） 12:15〜14:00 |
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「半導体メモリデバイスにおける熱問題と今後の展望」東 悠介氏（キオクシア株式会社） |
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半導体メモリの微細化に伴う一般的な熱問題と熱による保持特性劣化などの信頼性課題について述べ、
今後の展望としてメモリデバイスを極低温環境で動作させる極低温ストレージ開発について紹介する。 |
| 13:05-13:10 |
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ー休憩ー |
| 13:10-14:00 |
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「水冷モジュールの高精度な過渡熱インピーダンス測定とパワーサイクル寿命のオン時間依存性」 山内 浩平氏（富士電機株式会社） |
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車載用直接水冷モジュール内の熱インピーダンスをチップに内蔵された温度センサを使用して実現した高精度な過渡熱解析について紹介し、
パワーサイクル試験の通電時間と寿命の関係の評価と考察についてお話する。 |
| 会場 |
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工学部2号館221号講義室・223号講義室 |
| 参加申込方法 |
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にご参加される方は，どなたでもご参加いただけます． |
| ご注意 |
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本ワークショップのみのご参加はできません． |